Maroni V.A., Goyal A., Paranthaman M., Aytug T., Heatherly L., Kim K., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, IBAD process, fabrication
Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Leonard K.J., Thompson J.R., Kim K., Zhang Y., Ijaduola A.O., Tuncer E.
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, bulk, microstructure, Jc/B curves, composition, trapped field distribution, critical caracteristics, magnetic properties
Ключевые слова: HTS, Bi2212, bulk, tubes, rods, annealing process, geometry effects, casting process, fabrication, critical current, microstructure, critical caracteristics
Ключевые слова: cooling technology, HTS, YBCO, coated conductors, FCL resistive, quench, test results, nitrogen solid, recovery characteristics, power equipment
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, phase formation, thickness dependence, fabrication
Ключевые слова: Tokamak, Korea, high field magnets
Ключевые слова: HTS, YBCO, TFA-MOD process, thickness dependence, heat treatment, microstructure, substrate LaAlO3, texture, fabrication
Kim J., Yonekawa H., Lee S., Baek S., Kim K., Lee H., Chung W., Park K., Jeong S., Wang Q., Chu Y., Park S. H., Oh Y. K., Bak J. S.
Ключевые слова: Tokamak, coils solenoidal, LTS, Nb3Sn, cable-in-conduit conductor, experimental results, ac losses, friction, power equipment, high field magnets
Zanino R., Astrov M., Bagnasco M., Baker W., Bellina F., Ciazynski D., Egorov S., Kim K., Kvitkovic L. J., Lacroix B., Martovetsky N., Mitchell N., Muzzi L.10*, Nunoya Y.*11*, Okuno K.*11, Polak M., Ribani L. P.*12, Salpietro E., Richard S. L., Sborchia C.*13, Takahashi Y., Weng P.*14, Wesche R.*15, Zani L., Zapretilina E.
Ключевые слова: ITER, coils poloidal field, modeling, numerical analysis, power equipment
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, fabrication, precursors, critical current density, critical caracteristics
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Aytug T., Paranthaman M.P., Leonard K.J., Sathyamurthy S., Bhuiyan M.S., Kim K., Martin P.M., Li J., Fayek M.
Oh S.S., Ha H.S., Lee J.H., Jo W., Yoo S.I., Yoon H.R., Kim K.H., Choi M.R., Kim T.Y., Kang Y.M., Oh Y.S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, PLD process, substrate LaAlO3, substrate Ni alloy, comparison, fabrication, microstructure
Ключевые слова: HTS, Bi2212, bulk, fabrication, doping effect, microstructure, rods, critical current, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.